AR-Meta 超表面光場檢測系統(tǒng)

      AR-Meta 超表面光場檢測 在以上領(lǐng)域的應(yīng)用得益于如下幾個(gè)特點(diǎn)：

1 μm 量級(jí)測量區(qū)域 AR-Meta 基于 Olympus 商用顯微平臺(tái)，配合消除像差的準(zhǔn)直及成像光路，實(shí)現(xiàn)了 μm 量級(jí)超表面器件光場檢測；

2 超過 7 項(xiàng)關(guān)鍵指標(biāo) 圍繞超表面器件及超透鏡領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)，AR-Meta 形成了焦距、成像分辨率 (含角向分辨率)、點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) (PSF)、調(diào)制傳遞函數(shù) (MTF)、斯特列爾比 (Strehl Ratio)、數(shù)值孔徑 (N.A.)、偏折效率 (Deflection Efficiency) 等超過 7 項(xiàng)衡量器件光學(xué)性質(zhì)的關(guān)鍵指標(biāo)；

3 最寬 380~1700nm 譜段 AR-Meta 內(nèi)部支持兩個(gè)譜段：可見和近紅外 (含 850nm,1310nm,1550nm)，并通過高穩(wěn)定切換部件實(shí)現(xiàn)了兩者的切換，與之匹配的是可以通過外部接口，引入多種波長的激光光源；

4 反射 + 透射 AR-Meta 具有獨(dú)立的反射與透射兩套光路，能夠輕松實(shí)現(xiàn)反射情況下 0~20mm 縱深，透射情況下 0~2mm 縱深的光場掃描；

5 工程化設(shè)計(jì) AR-Meta 在設(shè)計(jì)中充分考慮了光路切換的穩(wěn)定性，實(shí)現(xiàn)了控制的自動(dòng)化，保障良好用戶體驗(yàn)；

6 除此之外，內(nèi)秉的線偏振與圓偏振器件，多種濾色片的選擇等，使 AR-Meta 的應(yīng)用覆蓋了超表面檢測所需要的多數(shù)場合。