概述

無需手動脈沖調(diào)整即可實(shí)現(xiàn)高脈沖保真度

通過 2601B-PULSE 控制回路系統(tǒng)，高達(dá) 3μH 的負(fù)載變化無需手動調(diào)整，從而確保在任何電流水平（最高 10 安培）下輸出 10 μs 至 500 μs 脈沖時，脈沖均不會出現(xiàn)過沖和振蕩。脈沖上升時間 < 1.7 μs，確保您可以正確檢定被測器件或電路。

• 輸出 10 A @ 10 V，脈沖寬度為 10 μs

• 脈沖上升時間 <1.7μs，可輕松檢定

• 高保真脈沖輸出，在任何電流水平下均無需調(diào)整

將快速脈沖發(fā)生器功能與 SMU 功能集成至一臺儀器中

2601B-PULSE 在業(yè)界領(lǐng)先的吉時利 2601B SMU 儀器所提供的測量完整性、同步性、速度和準(zhǔn)確性基礎(chǔ)上新增脈沖發(fā)生器功能。

• 通過 1 MS/s 的數(shù)字化功能，實(shí)現(xiàn)脈沖發(fā)生器 0.05% 的基本測量精度

• SMU 100 nA 低電流范圍與 100 fA 靈敏度

• 后面板 BNC 連接實(shí)現(xiàn)電纜快速設(shè)置

嵌入式腳本和連接提供很大的生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP?) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界最佳性能。TSP-Link? 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 32 個 TSP 鏈路節(jié)點(diǎn)，以創(chuàng)建高速、SMU-Per-Pin 并行測試（而不使用主機(jī)）。

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信

• 高級數(shù)據(jù)處理和流量控制

• 連接多達(dá) 32 個 TSP 鏈路節(jié)點(diǎn)

• 隨著測試要求變化輕松重新配置

應(yīng)用

ToF/LIDAR 應(yīng)用的激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測試

2601B-PULSE 是激光二極管垂直腔表面發(fā)射激光器 (VCSEL) LIV 生產(chǎn)測試的理想解決方案，采用高速高精度 10μs 脈沖發(fā)生器和 SMU，可用于 VCSEL、VCSEL 陣列和激光二極管模塊的電流脈沖源和電壓-電流監(jiān)測。SMU 提供經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的 LIV 儀器，系統(tǒng)同步和吞吐量高。

• 可編程脈沖電流源可達(dá) 10 A 電流和 10 μs 脈沖寬度

• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 100 fA

• 內(nèi)置 TSP? 處理功能可減少 PC和儀器總線通信

如何使用 2601B-PULSE System SourceMeter SMU 儀器生成 10 μs 脈沖

當(dāng)輸出低至 10 μs 的脈沖時，新型電流脈沖發(fā)生器/SMU 無需耗時的手動計時

故障分析和質(zhì)量保證

半導(dǎo)體公司和半導(dǎo)體研究人員不斷尋找方法，使測試設(shè)備不會成為其在半導(dǎo)體領(lǐng)域有所突破的阻礙。半導(dǎo)體故障分析 (FA) 工程師耗時無數(shù)，試圖了解設(shè)備故障的原因及在將來如何預(yù)防。

• 通過 SMU 和脈沖測試簡化 FA 過程

• 數(shù)字 I/O 觸發(fā)外部 IR 攝像機(jī)

• 內(nèi)置定時器功能，分辨率為 1μs，精度為 ±100 ppm。

使用源測量單元和鎖定熱成像技術(shù)進(jìn)行故障分析的先進(jìn)技術(shù)

簡化的 LED 脈沖式/直流 I/V 檢定

2601B-PULSE 獨(dú)特的電流脈沖、直流電壓和電流功能可實(shí)現(xiàn)高速 LED 直流和脈沖 IV 檢定及生產(chǎn)測試，具有 0.015％ 的基本測量精度。對 microLED、LED 或高亮度 LED (HBLED) 執(zhí)行脈沖測試可最大程度地減少自發(fā)熱，并減少對測量精度的負(fù)面影響，此外，無需擔(dān)心損壞被測器件。

• 可編程電流源可達(dá) 10 A 電流和 10 μs 脈沖寬度

• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 100 fA

• 1 M 樣點(diǎn)/秒數(shù)字化器，用于快速采集和測量數(shù)據(jù)

• 內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

晶圓半導(dǎo)體測試

Keithley 2601B-PULSE 和其他系列 2600B System SourceMeter? SMU 儀器將堆架式儀器的可擴(kuò)展性和靈活性與基于主機(jī)系統(tǒng)的集成和高吞吐量相結(jié)合，使用 TSP 和 TSP 鏈路技術(shù)減少制造活動和測試成本。這些儀器通常用于激光二極管、LED、晶體管等晶圓半導(dǎo)體測試。

• 內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

• TSP-鏈路多達(dá) 32 臺儀器可在 500 ns 內(nèi)與其他 Keithley TSP 儀器同步